TDR测试高速, 高频率
从IC包裹到MCMs
HDI 基体特征阻抗测试 测试头(检查夹具) 与高频率 探针 可适用对MCM, BGA, FC-PGA, FC-BGA, CSP 并且大多图象盘区 高频率探针, 带宽: DC 对20/40GHz
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1109 IMPEDANCE BOARD HiTESTER 自动测试设备具体参数。